###
中国无机分析化学:2013,3(Z1):31-32
本文二维码信息
码上扫一扫!
氢氟酸直接进样-电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)测定氧化锆中多种杂质元素
(1.岛津全球应用技术支持中心 上海 200052;2.岛津制作所全球应用开发中心 日本京都 604-8511)
摘要
图/表
参考文献
相似文献
本文已被:浏览 3542次   下载 2122
投稿时间:2013-08-26    修订日期:2013-09-06
中文摘要: 采用氢氟酸微波消解法前处理氧化锆材料,使用氢氟酸进样系统,不需要赶酸直接测定GBW06602氧化锆标准样品中的多元素含量,根据样品情况确定了最佳分析条件和最佳分析谱线。实验结果表明,测定元素线性关系及重复性良好,定量准确,可同时测定氧化锆中的多种金属元素,该方法检出限低,精密度高,分析结果与标准值相吻合,完全满足氧化锆中多元素杂质含量的工业分析要求。
Abstract:
keywords:
文章编号:     中图分类号:    文献标志码:
基金项目:
Author NameAffiliation
  
  
  
  
  
  
  
引用文本:
李 剑,孙友宝,马晓玲,陈建立,黄涛宏,谷口 理,端 裕树.氢氟酸直接进样-电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)测定氧化锆中多种杂质元素[J].中国无机分析化学,2013,3(Z1):31-32.
.[J].Chinese Journal of Inorganic Analytical Chemistry,2013,3(Z1):31-32.

我们一直在努力打
造,精品期刊,传
播学术成果

全国咨询服务热线
86-10-63299759

杂志信息

期刊简介

相关下载

联系我们

电话:010-63299759

传真:010-63299754

QQ:XXXXXXX

Email:zgwjfxhx@163.com

邮编:100160

地址:北京市南四环西路188号总部基地十八区23号楼

关注微信公众号